روش جدید تعیین ویژگی های الکتریکی دیود نیمه هادی در بایاس مستقیم

چکیده مقاله

روش غیرمخرب جدید برای تعیین ویژگی های دیود نیمه هادی با استفاده از اندازه گیری AV هدایت ظاهری – ولتاژ در تمایل رو به جلو بایاس ارائه شده است برای این روش ، بخش خیالی و واقعی به صورت همزمان مورد توجه قرار گرفته اند تا پارامترهای دقیق دیود مانند مقاومت سری ، ظرفیت اتصال ، ولتاژ اتصال و عامل ایده آل در بایاس های رو به جلوی گوناگون مشخص شود همچنین می توان از این روش برای تشخیص و اندازه گیری های لایة سطح مشترک در دیود واقعی استفاده نمود با این روش ، دیودهای شاتکلی NGAN با تماس اهمی گوناگون مورد بررسی قرار گرفته اند اندازه گیری ها نشان می دهند که ظرفیت منفی عمدة دیودهای شاتکلی شامل تأثیر اتصال بر لایة سطح مشترک را می توان به عنوان ساختار لایه با مقاومت غیرخطی و ظرفیت به حساب آورد

کلیدواژه‌ها

نویسندگان

غلامعلی خوشگو

دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه جامع امام حسین ع

سید محمد علوی

استاد دانشگاه جامع امام حسین ع

�وشگو، غلامعلی و علوی، سید محمد،1398،روش جدید تعیین ویژگی های الکتریکی دیود نیمه هادی در بایاس مستقیم،ششمین همایش سراسری علوم و مهندسی دفاعی سپاه،تهران

ارائه‌شده در

مجموعه مقالات هفتمین همایش سراسری علوم و مهندسی دفاعی سپاه18 اسفند 1399 · تهران