چکیده مقاله
در این مقاله، روش جدیدی برای بهبود خطینگی کلید نمونه برداری در مبدلهای داده ارائه شده است این کار به کمک یک ترانزیستور اتصال دیودی که در کنار کلید اصلی اضافه شده، انجام میشود نتایج شبیه سازی با استفاده از فناوری 180nm CMOS نشان می دهد که اعوجاج هارمونیکی ساختار ارائه شده برای نرخ نمونه برداری 100MS/s برابر با 93dB بوده که نسبت به ساختار متعارف بهبود قابل توجهی پیدا کرده است
کلیدواژهها
نویسندگان
شیوه ارجاع
مسلمانی، علیرضا و شعاعی، امید،1399،یک کلید آنالوگ جدید برای مبدل های داده با دقت بالا،هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران،تهران
ارائهشده در
مجموعه مقالات هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران20 خرداد 1399 · تهران