چکیده مقاله
؛XRD یا همان پراش اشعه ایکس X Ray Diffraction تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسیخصوصیات کریستال ها می باشد در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسیویژگی های نمونه استفاده می شود تکنیک XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه،تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیریتک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه و غیره، قابل استفاده می باشد در این مقاله ابتدا بااساس کار XRD و سپس با اجزا XRD و همچنین XRF آشنا خواهیم شد
کلیدواژهها
نویسندگان
پوریا زرشناس
کارشناسی ارشد شیمی معدنی، دانشکده علوم شیمی و نفت دانشگاه شهید بهشتی
محمدجواد نکوئی
دانشجوی دکترای عمران گرایش سازه دانشگاه آزاد اسلامی واحد لارستان فارس ایران
علی نکوئی
دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی مکانیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد لامرد فارس ایران
شیوه ارجاع
�رشناس، پوریا،1400،نگاهی به مبانی پراش اشعه ایکس (مقدمه ای کوتاه به XRD و XRF)،هشتمین کنفرانس بین المللی مکانیک، ساخت، صنایع و مهندسی عمران
ارائهشده در
مجموعه مقالات هشتمین کنفرانس بین المللی مکانیک، ساخت، صنایع و مهندسی عمران31 مرداد 1400