اثر توپوگرافی در تعیین ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل

چکیده مقاله

وجود توپوگرافی در بالای ژئویید مانع بزرگی برای تعیین ارتفاع ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل محسوب می گردد مدل های ژئوپتانسیل جهانی امکان مدل سازی میدان پتانسیل زمین را به صورت بسط سری خارجی از هارمونیک های کروی فراهم می سازند استفاده از این بسط برای تعیین آنومالی پتانسیل بروی ژئویید در داخل توپوگرافی سبب تولید یک بایاس می شود که به آن بایاس توپوگرافی می گویند در این مطالعه به دوروش، انتقال تحلیلی و رپ جهت محاسبه بایاس توپوگرافی پرداخته می شود این دو روش برای 490 نقطه GPS Levelling در یک منطقه کوهستانی امریکا مورد ارزیابی قرار گرفت بیشینه مقدار بایاس توپوگرافی در روش انتقال تحلیل و رپ به ترتیب 1 302 و 1 554 متر بدست آمد نتایج نشان داد که ژئویید حاصل از دو روش مطابقت خوبی با دقت سانتی متر بر یکدیگر دارند که در قیاس با ژئویید هندسی حاصل از داده های GPS Levelling، برتری دقت روش انتقال تحلیلی به میزان 3 4 سانتی متر در خطای جذر میانگین مربعات حاصل گردید

کلیدواژه‌ها

نویسندگان

سهیل هجرتی

دانشجوی کارشناسی ارشد ژئودزی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه آزاد اسلامی، واحد علوم و تحقیقات شاهرود

مهدی گلی

استادیار ژئودزی، دانشکده مهندسی عمران، دانشگاه صنعتی شاهرود

هجرتی، سهیل و گلی، مهدی،1395،اثر توپوگرافی در تعیین ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل،دومین کنفرانس ملی مهندسی فناوری اطلاعات مکانی،تهران

ارائه‌شده در

مجموعه مقالات دومین کنفرانس ملی مهندسی فناوری اطلاعات مکانی29 دی 1395 · تهران