تصویر Hadi Jahanirad
پروفایل پژوهشگر

Hadi Jahanirad

۱مقاله
۲کنفرانس

مقالات Hadi Jahanirad

مقاله کنفرانسی سال ۱۳۹۹ ۸۹۷ مشاهده

An LFSR based method for concurrent BIST in logic circuits

Built in self test BIST is the capability of hardware/software to test by itself BIST techniques are div…

BISTConcurrent self testTest generation

حضور در کنفرانس‌ها

پوستر مجموعه مقالات هشتمین کنگره ملی تازه های مهندسی برق و کامپیوتر ایران
۱۴۰۰ تهران

مجموعه مقالات هشتمین کنگره ملی تازه های مهندسی برق و کامپیوتر ایران

پوستر مجموعه مقالات هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران
۱۳۹۹ تهران

مجموعه مقالات هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران