م مقاله کنفرانسی سال ۱۳۹۹ ۸۹۷ مشاهده An LFSR based method for concurrent BIST in logic circuits Built in self test BIST is the capability of hardware/software to test by itself BIST techniques are div… BISTConcurrent self testTest generation
۱۴۰۰ تهران مجموعه مقالات هشتمین کنگره ملی تازه های مهندسی برق و کامپیوتر ایران تاریخ برگزاری: 28 بهمن 1400
۱۳۹۹ تهران مجموعه مقالات هفتمین کنگره ملی تازه یافته های مهندسی برق ایران تاریخ برگزاری: 20 خرداد 1399