تصویر EHSAN MORAD
پروفایل پژوهشگر

EHSAN MORAD

۱مقاله
۰کنفرانس

مقالات EHSAN MORAD

مقاله کنفرانسی سال ۱۳۹۴ ۱,۲۷۴ مشاهده

A Novel Soft Error Hardened 14T SRAM Cell

Technology scaling has brought forth major issues related to process variation such as circuit stability…

Soft ErrorSRAM HardenedNano technology