چکیده مقاله
تابش اشعه گاما می تواند با ایجاد آسیب در شبکه بلوری و القای مراکز بازترکیبی جدید، پارامترهای عملکردی دیود نوری PIN ژرمانیومی را تحت تاثیر قرار دهد و جریان تاریکی آن را افزایش دهد در این مطالعه، میزان افزایش جریان روشنایی و جریان تاریکی در دیود PIN مبتنی بر ژرمانیوم، در معرض دوزهای مختلف تابش گاما مورد بررسی قرار گرفت برای اعتبارسنجی نتایج آزمایشگاهی، یک مدل مبتنی بر شبیه سازی در نرم افزار Silvaco Atlas توسعه داده شد این مدل شامل دیود ژرمانیومی تحت برهم کنش در بایاس معکوس و تابش منبع گاما با طول موج ۰ ۳۰ نانومتر است تحلیل داده ها ارتباط منطقی و هم راستای خوبی بین نتایج تجربی و خروجی شبیه سازی نشان داد نتایج مدل و آزمایش ها به طور واضح حاکی از افزایش قابل توجه جریان تاریکی در اثر تابش گاما با دوزهای متفاوت هستن
کلیدواژهها
نویسندگان
شیوه ارجاع
کرم، هانیه و محمدزاده حسنی، سید مبین،1404،ارزیابی افزایش جریان تاریکی در دیود PIN تحت دزهای مختلف تابش،بیست و هفتمین کنفرانس ملی مهندسی برق ،کامپیوتر و مکانیک،شیروان
ارائهشده در
مجموعه مقالات بیست و هشتمین کنفرانس ملی مهندسی برق، کامپیوتر و مکانیک25 آذر 1404 · شیروان